炭(tan)黑(hei)單(dan)顆粒子硬度儀(yi)的(de)技術標(biao)準(zhun)與行業(ye)規範相(xiang)輔相(xiang)成,共同(tong)保障了炭黑(hei)單(dan)顆粒子硬度測(ce)試的(de)準(zhun)確(que)性(xing)和(he)可(ke)靠性(xing),為(wei)炭黑(hei)行業(ye)的(de)高質(zhi)量(liang)發(fa)展(zhan)提(ti)供(gong)了堅(jian)實支撐,有助(zhu)於(yu)生(sheng)產(chan)出更優質的(de)炭黑(hei)產(chan)品(pin),滿(man)足各應(ying)用(yong)領(ling)域(yu)日(ri)益嚴(yan)苛(ke)的(de)需(xu)求。
炭(tan)黑(hei)作(zuo)為壹種(zhong)重要的(de)工業原(yuan)料(liao),廣泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)橡(xiang)膠、塑(su)料(liao)、塗(tu)料(liao)等(deng)眾(zhong)多領(ling)域(yu)。其性(xing)能優劣對(dui)最終產(chan)品(pin)質(zhi)量(liang)影響(xiang)深(shen)遠(yuan),而(er)炭黑(hei)單(dan)顆粒子的(de)硬度是(shi)衡(heng)量(liang)其品(pin)質(zhi)的(de)關鍵指標(biao)之壹。因此,精(jing)準(zhun)測(ce)定炭黑(hei)單(dan)顆粒子硬度的(de)硬度儀(yi),在(zai)炭黑(hei)生產(chan)與應(ying)用(yong)行業(ye)中(zhong)起(qi)著(zhe)舉足(zu)輕(qing)重(zhong)的(de)作(zuo)用(yong)。為(wei)確(que)保硬度儀(yi)測(ce)量(liang)結果(guo)的(de)準(zhun)確(que)性(xing)與可(ke)靠性(xing),壹系列嚴格(ge)的(de)技術標(biao)準(zhun)和(he)行業(ye)規範應(ying)運(yun)而生(sheng)。

在技術標(biao)準(zhun)方(fang)面(mian),依據該(gai)標(biao)準(zhun),炭(tan)黑(hei)單(dan)顆粒子硬度儀(yi)需(xu)具備(bei)高精(jing)度(du)的(de)力(li)測量(liang)與直徑(jing)測量(liang)能力(li)。例如,力(li)測量(liang)的(de)絕對(dui)精度(du)應(ying)達到±2cN(2gf),直徑(jing)測量(liang)的(de)絕對(dui)精度(du)需(xu)達到±0.1mm,相(xiang)對(dui)精度(du)為(wei)±0.5cN(0.5gf)的(de)力(li)測量(liang)以及±0.02mm的(de)直徑(jing)測量(liang)。儀(yi)器(qi)還應(ying)配(pei)備(bei)自(zi)動加載樣(yang)品(pin)的(de)裝置,保(bao)證炭(tan)黑(hei)顆粒能以最(zui)小力(li)接(jie)觸(chu)測(ce)試板(ban),通常借助(zhu)帶有測力(li)裝置的(de)滾(gun)輪實現(xian),且(qie)能施加(jia)2cN(2gf)的(de)力(li)以檢(jian)測(ce)接(jie)觸(chu)情況(kuang)。在測試過(guo)程(cheng)中(zhong),儀(yi)器(qi)能以恒(heng)定速(su)率施(shi)加力(li),並(bing)減少(shao)顆粒在(zai)受力(li)時的(de)移(yi)動(dong)。同(tong)時,儀(yi)器(qi)要有完善(shan)的(de)控制裝置,可(ke)引(yin)導(dao)完成整(zheng)個測(ce)試循環,包括(kuo)在受控條件下(xia)壓碎顆粒、精(jing)準(zhun)測(ce)量(liang)並(bing)存(cun)儲(chu)初(chu)始直徑(jing)和壓碎力(li)測定結果(guo)、及時清(qing)潔測(ce)試板(ban)表面以及自(zi)動啟動(dong)下(xia)壹個測(ce)試(shi)流程(cheng)。此(ci)外,還需(xu)設(she)計專門(men)算法(fa),用(yong)以(yi)確(que)定單(dan)個(ge)測(ce)試(shi)的(de)終點(dian),即(ji)依據力(li)的(de)變化或(huo)顆粒尺寸(cun)的(de)減小(xiao)情況(kuang)來判定。
從行業(ye)規範角(jiao)度來看,在(zai)儀(yi)器(qi)運(yun)行環境上有著(zhe)明確(que)要求。測(ce)試環境需(xu)保(bao)持(chi)清(qing)潔,工作(zuo)臺面務必幹(gan)凈(jing)整(zheng)潔,防(fang)止灰(hui)塵(chen)等(deng)雜質幹(gan)擾測試結果(guo)。對(dui)環境溫濕(shi)度(du)也有嚴格(ge)規定,壹般會(hui)在(zai)測試房(fang)間內放(fang)置溫(wen)濕(shi)度(du)計,實時監(jian)控並(bing)確(que)保溫(wen)濕(shi)度(du)符合標(biao)準(zhun)。樣(yang)品(pin)盤(pan)每(mei)次(ci)使用(yong)完畢(bi)後(hou),必須仔細擦(ca)拭(shi)幹(gan)凈(jing)並(bing)放置在(zai)無塵(chen)環境中(zhong);儀(yi)器(qi)使用(yong)結(jie)束(shu),要(yao)用(yong)幹(gan)凈(jing)布遮(zhe)蓋,避(bi)免(mian)塵(chen)土落(luo)入(ru)。在(zai)操作(zuo)規範方(fang)面,操作(zuo)人(ren)員(yuan)需(xu)經(jing)過(guo)專(zhuan)業(ye)培訓(xun),熟(shu)練(lian)掌(zhang)握(wo)儀(yi)器(qi)的(de)手動(dong)和(he)自(zi)動兩種(zhong)操作(zuo)模式(shi)。手動(dong)模式(shi)適(shi)用(yong)於(yu)單(dan)個(ge)粒子測(ce)試,自(zi)動模式(shi)則(ze)可(ke)壹次(ci)性(xing)放(fang)置多個粒子(如12個)進行連(lian)續(xu)測試(shi)。在自(zi)動測試(shi)時,嚴(yan)禁(jin)用(yong)手(shou)放置粒子樣(yang)品(pin),以(yi)防(fang)發(fa)生(sheng)危險並(bing)確(que)保測(ce)試準(zhun)確(que)性(xing)。每(mei)個(ge)粒子測(ce)試完成後(hou),計算機(ji)自(zi)動統計測量(liang)結果(guo)並(bing)妥(tuo)善(shan)存(cun)儲(chu)。若測試(shi)過(guo)程(cheng)中(zhong)出現(xian)中(zhong)途自(zi)動停機(ji)現(xian)象,應(ying)及時排查(zha)是(shi)否(fou)因電壓不穩(wen)定或儀(yi)器(qi)接(jie)入(ru)電(dian)源時插(cha)座(zuo)松(song)動(dong)、接(jie)觸(chu)不良(liang)等(deng)問(wen)題(ti)導致(zhi)。